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PCT 高溫高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

高壓蒸煮老化試驗(yàn)機(jī)主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

高壓壽命老化試驗(yàn)箱主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

高溫高壓pct加速老化試驗(yàn)箱主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

高溫高壓加速老化試驗(yàn)箱(又稱“PCT試驗(yàn)箱”):是由一個圓形的壓力容器及水加熱系統(tǒng)組成。主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠

高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于測試產(chǎn)品在高溫、高濕及高壓的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時的性能試驗(yàn)，用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、IC 半導(dǎo)體、磁性材料、高分子材料、金屬材料、EVA 材料、連接器、光伏組件及其材料在模擬高溫、高濕及壓力的氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測試，測試后通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)檢定及出廠檢驗(yàn)使用。